電波プロダクトニュース
050429_03
大規模な集積化を実現したSoC(システム・オン・チップ)設計向け Nexsis 65ナノプロセス TSMCは、米国サンノゼで開催されたTSMCテクノロジシンポジウムで最新の半導体製造技術Nexsys 65ナノメートルプロセス技術を発表した。最初のウエハーは今年12月に製造される予定。 SoC(システム・オン・チップ)設計向けの新しいNexsys技術は、同社の90ナノメートル技術に比べ2倍の密度でロジックデバイスを設計することが可能で、7500億以上のトランジスタを1枚の12インチ・ウエハーに集積するのに匹敵し、このような大規模な集積化は大幅なコスト削減を可能にする。 また、2倍のスタンダードセル・ゲート密度、約半分の0.5平方マイクロメートル未満の6T SRAMセルサイズ、そして65%小さい1Tメモリーセルも含まれている。さらに新しいプロセス技術ではトランジスタの性能をさらに向上させるため、非常に薄いゲート酸化膜を採用している。 消費電力と性能においては、同社の汎用向けプロセスとの比較で50%のスピード向上、20%の待機時消費電力を実現している。高速向け仕様では消費電力と性能のトレードオフの点で業界をリードすると期待されている。 また、新規開発した電気ヒューズ技術により、容易にデバイスの識別や構成に関する機能を加えることができる。 65ナノメートルプロセスは、同社とASMLの協業により開発された液侵リソグラフィ技術を採用する最初のプロセスとなる。これらは300ミリメートル対応製造工場であるファブ12および14に導入の予定 |
|
全新製品情報
|
一般電子部品:製品別リスト
|
|
電子デバイス:製品別リスト
|
電子デバイス:用途別リスト|
| ホームページへ戻る
| 次データへ
|