差動ADCドライバー内蔵の耐放射線性36V計測アンプ

　インターシルは差動アナログ／デジタル・コンバータ（ＡＤＣ）ドライバーを内蔵した業界初の耐放射線性３６Ｖ計測アンプを発表した。

　新製品の高性能ＩＳＬ７０６１７ＳＥＨ差動入力レール・ツー・レール出力計測アンプは、通信衛星に重要な低レベル・センサー・テレメトリ・データのために業界最高のシグナル・プロセッシング性能を提供する。高い集積度とクラス最高の性能により、システムのサイズ、重量、電力（ＳＷＡＰ）コストの低減と製品開発期間の短縮を可能にする。

　新製品は競合製品に比べて、全てのゲイン設定で高いコモンモード除去比（ＣＭＲＲ）と電源電圧除去比（ＰＳＲＲ）を提供する。設計者は２個の外部抵抗を使い、計測アンプのゲインを０・１から１万の間で簡単にプログラムできる。

　競合製品では高線量率テストが行われているのに対し、ＩＳＬ７０６１７ＳＥＨは、宇宙環境に極めて近い１０ｍｒａｄ／秒の低線量率テストが実施されており、ウエハーレベルで７５ｋｒａｄ（Ｓｉ）まで性能が保証されている。

　インターシル独自のシリコン・オン・インシュレータ・プロセスを採用しており、重イオン環境で６０ＭｅＶのシングル・イベント・ラッチアップ（ＳＥＬ）耐性とシングル・イベント・バーンアウト（ＳＥＢ）耐性を提供する。

　同時に発表したＩＳＬ７０５１７ＳＥＨは同様の特徴を備えているが、差動入力とレール・ツー・レール・シングルエンド出力を提供する。両製品ともに個別の電源ピンを使用し、異なる電源から入出力段への給電を可能にする。

　また、高いコモンモード電圧上で入力信号を受け取り、低電圧デバイスへのレベルシフトを可能にする。

　例えば、インターシルの計測アンプはアンプのレール・ツー・レール出力とＡＤＣの低電圧電源によって、後段のＩＣを高電圧信号から保護できる。