160121_01
日付 |
メーカー名 |
製品分類 |
分類 |
用途 |
1月21日 |
160121_01 |
オン・セミコンダクター |
半導体素子 |
イメージセンサー |
一般産業用 |
工業検査や地図作製アプリ向け4700万画素のCCDイメージセンサー
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オン・セミコンの「KAI─47051」
イメージセンサー |
オン・セミコンダクターは世界最高解像度レベルのインターライントランスファ型CCDデバイスの「KAI−47051」イメージセンサーを発表した。同製品は、重要な工業検査・地図作成アプリケーションの性能と効率性をこれまでにないレベルに高める。
47メガピクセル(MP)の新イメージセンサーは、薄型パネルの検査や航空写真測量などのアプリケーションで使用されている「KAI―29050」と比較して解像度を50%超向上。さらに、これらのアプリケーションで求められるCCDレベルの画質の均一性とグローバルシャッタ・アーキテクチャを維持する。
高解像度のスマホ、タブレットPC、パソコンモニター、テレビの検査における増え続ける要求に応えるため、そして航空写真測量などの監視アプリケーションの画質と全体的な性能を向上させるために設計された。
KAI―47051は、これらのアプリケーションで現在幅広く使用されている29MP KAI―29050イメージセンサーの技術が生かされている。大型の光フォーマットによる高解像度に加え、既存のデバイスと比較して読み出しノイズを15%抑えた低ノイズアンプが組み込まれており、ダイナミックレンジを66デシベルへ高める。
また、16出力アーキテクチャにより、毎秒7フレームのスピードを実現。これは既存の低解像度デバイスの約2倍となる。
KAI―47051は、RoHS対応PGA―201パッケージで提供される。
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