071203_02
日付 |
メーカー名 |
製品分類 |
分類 |
用途 |
12月3日 |
071203_02 |
NEC |
半導体集積回路 |
メモリー |
パソコン・OA機器・LAN用 |
容量1メガビット・トランジスタ2個・磁気抵抗素子1個からなり超高速次世代メモリーである磁気メモリー(MRAM)で世界最高速の250メガヘルツ動作の実証実験に成功
NECは、データ保持に電力を消費せず、書き換え回数制限のない超高速次世代メモリーである磁気メモリー(MRAM)で、世界最高速の250メガヘルツ動作の実証実験に成功した。
今回、動作実証に成功したMRAMは、同社が独自に開発、設計、試作したもので、容量が1メガビット、トランジスタ2個と磁気抵抗素子1個からなるメモリーセルや独自の回路方式を採用している。これらにより、従来のMRAMの最高速である周波数100メガヘルツの2倍以上で、現在のシステムLSIに組み込まれているSRAMと同等の速度を実現した。MRAMは、電源を切ってもデータが保持される機能があり、同様の機能を持つフラッシュメモリーよりも高速動作が可能となっている。
今回の実証実験では、モニター回路を使い、読み書き時のメモリー内部の波形を測定することで250メガヘルツ動作におけるデータ出力までの所用時間が3.7ナノ秒と、高速動作を確認している。
同社では、今回の実証実験の成功はMRAMの実現に向けて見通しが得られたものであるとし、今後はシステムLSIに組み込んだ形での動作検証を目指して、さらに設計・試作を重ねていくとしている。
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